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Codes et normes - Achat
IEC 60746-1:2003
Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs électrochimiques - Partie 1: Généralités
- Anglais, Français
- Publié en: 2003
- Publié par IEC
Codes et normes - Achat
IEC 60746-2:2003
Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs électrochimiques - Partie 2: Mesure du pH
- Anglais, Français
- Publié en: 2003
- Publié par IEC
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IEC 60746-2:2003/COR1:2003
Corrigendum 1 - Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs électrochimiques - Partie 2: Mesure du pH
- Anglais
- Publié en: 2003
- Publié par IEC
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IEC 60746-2:2003/COR2:2003
Corrigendum 2 - Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 2: pH value
- Anglais
- Publié en: 2003
- Publié par IEC
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IEC 60746-3:2002
Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs électrochimiques - Partie 3: Conductivité électrolytique
- Anglais, Français
- Publié en: 2002
- Publié par IEC
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IEC 60746-3:2002/COR1:2003
Corrigendum 1 - Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 3: Electrolytic conductivity
- Anglais
- Publié en: 2003
- Publié par IEC
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IEC 60746-4:2018
Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs électrochimiques - Partie 4: Oxygène dissous dans l'eau mesuré par des capteurs ampérométriques recouverts d'une membrane
- Bilingue
- Publié en: 2018
- Publié par IEC
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IEC 60746-5:1992
Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs électrochimiques - Partie 5: Potentiel d'oxydo-réduction ou potentiel redox
- Bilingue
- Publié en: 1992
- Publié par IEC
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IEC 61207-1:2010
Expression des performances des analyseurs de gaz - Partie 1: Généralités
- Bilingue
- Publié en: 2010
- Publié par IEC
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IEC 61207-2:2019
Expression des qualités de fonctionnement des analyseurs de gaz - Partie 2: Mesure de l'oxygène contenu dans le gaz en utilisant des capteurs électrochimiques à haute température
- Bilingue
- Publié en: 2019
- Publié par IEC
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IEC 61207-3:2019
Analyseurs de gaz - Expression des performances - Partie 3 : Analyseurs d'oxygène paramagnétiques
- Bilingue
- Publié en: 2019
- Publié par IEC
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IEC 61207-3:2019 RLV
Gas Analyzers - Expression of performance - Part 3: Paramagnetic oxygen analysers
- Anglais
- Publié en: 2019
- Publié par IEC
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IEC 61207-6:2014
Expression des performances des analyseurs de gaz - Partie 6: Analyseurs photométriques
- Bilingue
- Publié en: 2014
- Publié par IEC
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IEC 61207-7:2013
Expression des performances des analyseurs de gaz - Partie 7: Analyseurs de gaz laser à semiconducteurs accordables
- Bilingue
- Publié en: 2013
- Publié par IEC
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IEC 61207-7:2013/COR1:2015
Corrigendum 1 - Expression des performances des analyseurs de gaz - Partie 7: Analyseurs de gaz laser à semiconducteurs accordables
- Bilingue
- Publié en: 2015
- Publié par IEC
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IEC 62703:2013
Expression des performances des analyseurs d'oxygène fluor métriques en milieu liquide
- Bilingue
- Publié en: 2013
- Publié par IEC
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IEC TR 61832:2015
Design and installation of on-line analyser systems - Guide to technical enquiry and bid evaluation
- Anglais
- Publié en: 2015
- Publié par IEC
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IEC TR 62432:2006
The rH index in aqueous and aqueous-organic media
- Anglais
- Publié en: 2006
- Publié par IEC
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IEC TR 62434:2006
pH measurements in difficult media - Definitions, standards and procedures
- Anglais
- Publié en: 2006
- Publié par IEC
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IEC TR 62456:2007
An electrochemical reference system for use in different solvent media - The decamethylated ferricinium/ferrocene redox couple
- Anglais
- Publié en: 2007
- Publié par IEC
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ISO 10810:2019
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Guidelines for analysis
- Anglais
- Publié en: 2019
- Publié par ISO
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ISO 11039:2012
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Measurement of drift rate
- Anglais
- Publié en: 2012
- Publié par ISO
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ISO 11505:2012
Surface chemical analysis -- General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
- Anglais
- Publié en: 2012
- Publié par ISO
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ISO 11775:2015
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of cantilever normal spring constants
- Anglais
- Publié en: 2015
- Publié par ISO
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ISO 11952:2019
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
- Anglais
- Publié en: 2019
- Publié par ISO
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ISO 12406:2010
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of arsenic in silicon
- Anglais
- Publié en: 2010
- Publié par ISO
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ISO 12963:2017
Analyse des gaz -- Méthodes de comparaison pour la détermination de la composition des mélanges de gaz basées sur un ou deux points d'étalonnage
- Anglais, Français
- Publié en: 2017
- Publié par ISO
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ISO 12963:2017/Amd 1:2020
Analyse des gaz — Méthodes de comparaison pour la détermination de la composition des mélanges de gaz basées sur un ou deux points d'étalonnage — Amendement 1: Correction de la Formule 5
- Anglais, Français
- Publié en: 2020
- Publié par ISO
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ISO 13083:2015
Surface chemical analysis -- Scanning probe microscopy -- Standards on the definition and calibration of spatial resolution of electrical scanning probe microscopes (ESPMs) such as SSRM and SCM for 2D-dopant imaging and other purposes
- Anglais
- Publié en: 2015
- Publié par ISO
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ISO 13084:2018
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
- Anglais
- Publié en: 2018
- Publié par ISO
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ISO 13095:2014
Surface Chemical Analysis -- Atomic force microscopy -- Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
- Anglais
- Publié en: 2014
- Publié par ISO
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ISO 13424:2013
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Reporting of results of thin-film analysis
- Anglais
- Publié en: 2013
- Publié par ISO
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ISO 14167:2018
Analyse des gaz -- Aspects généraux sur la qualité et traçabilité des mélanges de gaz pour étalonnage
- Anglais, Français
- Publié en: 2018
- Publié par ISO
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ISO 14237:2010
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Dosage des atomes de bore dans le silicium à l'aide de matériaux dopés uniformément
- Anglais, Français
- Publié en: 2010
- Publié par ISO
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ISO 14606:2022
Surface chemical analysis — Sputter depth profiling — Optimization using layered systems as reference materials
- Anglais
- Publié en: 2022
- Publié par ISO
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ISO 14701:2018
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Measurement of silicon oxide thickness
- Anglais
- Publié en: 2018
- Publié par ISO
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ISO 14706:2014
Surface chemical analysis -- Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
- Anglais
- Publié en: 2014
- Publié par ISO
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ISO 14707:2021
Surface chemical analysis — Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES) — Introduction to use
- Anglais
- Publié en: 2021
- Publié par ISO
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ISO 14912:2003
Gas analysis -- Conversion of gas mixture composition data
- Anglais
- Publié en: 2003
- Publié par ISO
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ISO 14912:2003/Cor 1:2006
Gas analysis — Conversion of gas mixture composition data — Technical Corrigendum 1
- Anglais
- Publié en: 2006
- Publié par ISO
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ISO 14975:2000
Surface chemical analysis -- Information formats
- Anglais
- Publié en: 2000
- Publié par ISO
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ISO 14976:1998
Surface chemical analysis -- Data transfer format
- Anglais
- Publié en: 1998
- Publié par ISO
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ISO 15470:2017
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
- Anglais
- Publié en: 2017
- Publié par ISO
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ISO 15471:2016
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
- Anglais
- Publié en: 2016
- Publié par ISO
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ISO 15472:2010
Analyse chimique des surfaces -- Spectromètres de photoélectrons X -- Étalonnage en énergie
- Anglais, Français
- Publié en: 2010
- Publié par ISO
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ISO 15796:2005
Analyse des gaz -- Investigation et traitement des biais analytiques
- Anglais, Français
- Publié en: 2005
- Publié par ISO
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ISO 16129:2018
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
- Anglais
- Publié en: 2018
- Publié par ISO