Codes et normes - Achat
IEC 62416:2010
Dispositifs à semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS
SKU: iec_006991_043949
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
20 pages
détails du produit
La CEI 62416:2010 décrit l'essai de porteur chaud au niveau de la plaquette sur les transistors NMOS et PMOS. Cet essai est destiné à déterminer si les transistors individuels sont conformes à la durée de vie exigée du porteur chaud dans un processus (C)MOS donné.