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IEC 60749-16:2003
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 16: Détection de bruit d'impact de particules (PIND)
SKU: iec_003346_029645
Publié par IEC
Année de publication 2003
1.0 Edition
13 pages
détails du produit
Définit un essai permettant de détecter la présence de particules libres à l'intérieur d'un dispositif à cavité, comme des particules de céramique, des éléments de fil de liaison ou des boules de brasure (granulés).