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IEC 63284:2022
Dispositifs à semiconducteurs - Méthode d’essai de fiabilité par la commutation sur charge inductive pour les transistors au nitrure de gallium
SKU: iec_065091_111939
Publié par IEC
Année de publication 2022
1.0 Edition
25 pages
détails du produit
L'IEC 63284:2022 couvre le protocole d'exécution d'une procédure de contrainte et une méthode d'essai correspondante, en vue d'évaluer la fiabilité des transistors de puissance à base de nitrure de gallium (GaN) par la commutation sur charge inductive, en particulier la contrainte de commutation dure.