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IEC 61745:2017
Procédure d'analyse d'image d’extrémité pour l'étalonnage de dispositifs d'essais de géométrie des fibres optiques
SKU: iec_034091_102405
Publié par IEC
Année de publication 2017
2.0 Edition
81 pages
détails du produit
IEC 61745:2017 décrit l'étalonnage de dispositifs d'essais qui effectuent une analyse d'image d’extrémité, également appelée analyse de champ proche ou analyse d'échelle de gris. Les principes peuvent toutefois être appliqués à des dispositifs d'essais d'un type différent. Les procédures indiquées sont réalisées par des laboratoires d'étalonnage et par les fabricants ou les utilisateurs de dispositifs d'essais de géométrie, à des fins d'étalonnage de dispositifs d’essais de géométrie et d'évaluation des incertitudes des mesures effectuées sur des dispositifs d'essais étalonnés. Le présent document ne couvre pas l'étalonnage de dispositifs d’essais de mesure de câbles ou de revêtements de fibres. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 1998, dont elle constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) retrait de la restriction des dispositifs d'essais de géométrie aux fibres optiques unimodales pour inclure les fibres optiques multimodales;
b) ajout d'une nouvelle annexe portant sur les bases mathématiques.
Mots clés: analyse d’image d’extrémité, essais de géométrie des fibres optiques
a) retrait de la restriction des dispositifs d'essais de géométrie aux fibres optiques unimodales pour inclure les fibres optiques multimodales;
b) ajout d'une nouvelle annexe portant sur les bases mathématiques.
Mots clés: analyse d’image d’extrémité, essais de géométrie des fibres optiques