Codes et normes - Achat
IEC 62373:2006
Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteur (MOSFET)
SKU: iec_006938_036366
Publié par IEC
Année de publication 2006
1.0 Edition
27 pages
détails du produit
Fournit une procédure d'essai pour la stabilité de température en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor à effet de champ métaloxyde-semiconducteurs)