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IEC 62132-2:2010
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité electromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande
SKU: iec_006508_043906
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
49 pages
détails du produit
La CEI 62132-2:2010 spécifie une méthode de mesure de l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées aux fréquences radioélectriques. La gamme de fréquences de cette méthode est comprise entre 150 kHz et 1 GHz, ou dans les limites fixées par les caractéristiques de la cellule TEM.