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IEC 61788-10:2006
Supraconductivité - Partie 10: Mesure de la température critique - Température critique des composites supraconducteurs par une méthode par résistance
SKU: iec_005910_036427
Publié par IEC
Année de publication 2006
2.0 Edition
27 pages
détails du produit
La présente partie de la CEI 61788 décrit une méthode d'essai permettant de déterminer par résistivité la température critique des composites supraconducteurs pour utilisation industrielle.
La présente norme couvre des composites supraconducteurs tels que les Cu/Nb-Ti, les Cu/Cu-Ni/Nb-Ti, les Cu-Ni/Nb-Ti, les Cu/Nb3Sn, les Cu/Nb3Al, les MgB2 à gaine métallique, les oxydes supraconducteurs à base Bi stabilisés au métal, ainsi que les conducteurs avec couche d'Yttrium ou de terre rare qui ont une structure monolithique et se présentent sous la forme de fils ronds ou de rubans plats ou carrés constitués de supraconducteurs monofilamentaires ou multifilamentaires.