Codes et normes - Achat
IEC 60191-6-20:2010
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 6-20: Règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des boîtiers pour dispositifs à semiconducteurs pour montage en surface - Méthodes de mesure pour les dimensions des boîtiers à sortie en J (SOJ) de faible encombrement
SKU: iec_001004_044497
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
21 pages
détails du produit
La CEI 60191-6-20:2010 spécifie les méthodes destinées à mesurer les dimensions des boîtiers à sortie en J (SOJ) de faible encombrement, l'encombrement des boîtiers de forme E conformément à la CEI 60191-4.