Codes et normes - Achat
IEC 62373-1:2020
Dispositifs à semiconducteurs - Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET
SKU: iec_060339_108519
Publié par IEC
Année de publication 2020
1.0 Edition
44 pages
détails du produit
L’IEC 62373-1:2020 fournit la méthode de mesure pour un essai rapide de BTI (instabilité en température sous polarisation) des transistors à effet de champ métal-oxyde-semiconducteurs (MOSFET) à base de silicium.
Le présent document définit également les termes relatifs à la méthode d’essai de BTI conventionnelle.
Le présent document définit également les termes relatifs à la méthode d’essai de BTI conventionnelle.