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IEC 61788-2:2006
SupraconductivitĂŠ - Partie 2: Mesure du courant critique - Courant critique continu des supraconducteurs composites Nb3Sn
SKU: iec_005920_037235
PubliĂŠ par IEC
AnnĂŠe de publication 2006
2.0 Edition
73 pages
dĂŠtails du produit
La prĂŠsente partie de la CEI 61788 traite d'une mĂŠthode d'essai pour la dĂŠtermination du courant critique continu des supraconducteurs composites Nb3Sn qui sont fabriquĂŠs soit par le procĂŠdĂŠ du bronze, soit par le procĂŠdĂŠ de diffusion interne de l'ĂŠtain, et dont le rapport cuivre/non-cuivre est supĂŠrieur Ă 0,2.
La prĂŠsente mĂŠthode est destinĂŠe Ă ĂŞtre utilisĂŠe avec des supraconducteurs caractĂŠrisĂŠs par des courants critiques infĂŠrieurs Ă 1 000 A et des valeurs n supĂŠrieures Ă 12 dans des conditions d'essai normalisĂŠes et avec des champs magnĂŠtiques infĂŠrieurs ou ĂŠgaux Ă 0,7 fois la valeur du champ magnĂŠtique critique le plus ĂŠlevĂŠ. Le spĂŠcimen d'essai est immergĂŠ dans un bain d'hĂŠlium liquide Ă une tempĂŠrature mesurĂŠe pendant l'essai. Le conducteur d'essai composite Nb3Sn a une structure monolithique avec une surface de section ronde totale infĂŠrieure Ă 2 mm2. Le spĂŠcimen utilisĂŠ dans la prĂŠsente mĂŠthode d'essai a la forme d'une bobine inductive. La prĂŠsente norme indique les ĂŠcarts par rapport Ă la mĂŠthode d'essai permis dans des essais individuels de sĂŠrie et d'autres restrictions spĂŠcifiques.
Les conducteurs Nb3Sn ayant des courants critiques supĂŠrieurs Ă 1 000 A ou des surfaces de section supĂŠrieure Ă 2 mm2 peuvent ĂŞtre mesurĂŠs avec la prĂŠsente mĂŠthode avec une rĂŠduction anticipĂŠe de prĂŠcision et un effet de champ induit plus significatif (voir Annexe C). D'autres formes d'essai, plus spĂŠcialisĂŠes, peuvent ĂŞtre mieux appropriĂŠes pour des essais de conducteurs de plus grande taille qui ont ĂŠtĂŠ omis dans la prĂŠsente norme dans un souci de simplicitĂŠ et de prĂŠcision.
En principe, il convient que la mÊthode d'essai indiquÊe dans la prÊsente norme s'applique aux fils composites Nb3Sn fabriquÊs selon un autre procÊdÊ. Cette mÊthode est Êgalement supposÊe adaptable à d'autres fils supraconducteurs composites après des modifications appropriÊes.