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IEC 62836:2024
Mesurage du champ électrique interne dans les matériaux isolants - Méthode de l'onde de pression
SKU: iec_073069_114974
Publié par IEC
Année de publication 2024
1 Edition
93 pages
détails du produit
L’IEC 62836 :2024 fournit une procédure efficace et fiable pour évaluer le champ électrique interne dans les matériaux isolants utilisés pour les applications à haute tension, par la méthode de l'onde de pression (PWP). Cette méthode convient aux échantillons à géométrie plane et coaxiale constitués de matériaux isolants homogènes d'une épaisseur supérieure ou égale à 0,5 mm et aux champs électriques supérieurs à 1 kV/mm, mais elle dépend également de l'épaisseur de l'échantillon et du générateur d'ondes de pression.
Cette première édition annule et remplace l'IEC TS 62836 parue en 2020.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'IEC TS 62836:
a) ajout de l'Article 12 relatif au mesurage de la répartition des charges d'espace sur un échantillon plan;
b) ajout de l'Article 13 relatif aux échantillons à géométrie coaxiale;
c) ajout de l'Annexe D qui fournit des exemples de mesurages sur des échantillons à géométrie coaxiale;
d) ajout d'une Bibliographie;
e) les exemples de mesurages sur un échantillon plan ont été déplacés de l'Article 12 de l'IEC TS 62836 à l'Annexe C.
Cette première édition annule et remplace l'IEC TS 62836 parue en 2020.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'IEC TS 62836:
a) ajout de l'Article 12 relatif au mesurage de la répartition des charges d'espace sur un échantillon plan;
b) ajout de l'Article 13 relatif aux échantillons à géométrie coaxiale;
c) ajout de l'Annexe D qui fournit des exemples de mesurages sur des échantillons à géométrie coaxiale;
d) ajout d'une Bibliographie;
e) les exemples de mesurages sur un échantillon plan ont été déplacés de l'Article 12 de l'IEC TS 62836 à l'Annexe C.
