IEC 61788-7:2020
Supraconductivité - Partie 7: Mesurages des caractéristiques électroniques - Résistance de surface des supraconducteurs haute température critique aux hyperfréquences
détails du produit
IEC 61788-7:2020 décrit le mesurage de la résistance de surface (Rs) des supraconducteurs aux hyperfréquences par la méthode normalisée à deux résonateurs. L'objet du mesurage est la dépendance de la résistance de surface Rs vis-à-vis de la température à la fréquence de résonance. La plage de mesures applicable des résistances de surface Rs pour cette méthode est la suivante:
- Fréquence: 8 GHz < f < 30 GHz
- Résolution de mesure: 0,01 m ? à 10 GHz
Les données de Rs à la fréquence mesurée, et celles mises à l'échelle à 10 GHz, en prenant pour hypothèse la règle de comparaison f 2, doivent être consignées. Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition parue en 2006. Cette édition constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) l’ajout de l’Annexe B informative, incertitude type composée relative pour le mesurage de la résistance de surface;
b) les déclarations de fidélité et d'exactitude ont été converties en incertitude;
c) l'ajout de la reproductibilité du mesurage de résistance de surface.