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IEC 62969-4:2018
Dispositifs à semiconducteurs – Interface à semiconducteurs pour les véhicules automobiles - Partie 4: Méthode d'évaluation de l'interface de données destinée aux capteurs de véhicules automobiles
SKU: iec_034181_104428
Publié par IEC
Année de publication 2018
1.0 Edition
39 pages
détails du produit
L’IEC 62969-4:2018 spécifie une méthode d’essai par injection directe de défaut pour l’interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l’interface de communication du véhicule.