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IEC 60749-41:2020
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 41: Méthodes d’essai normalisées pour la fiabilité des dispositifs à mémoire non volatile
SKU: iec_033750_108550
Publié par IEC
Année de publication 2020
1.0 Edition
44 pages
détails du produit
L’IEC 60749-41:2020 spécifie les exigences relatives aux procédures permettant de réaliser des essais valides d’endurance, de conservation de données et à températures opposées, basées sur une spécification de qualification. Les spécifications de qualification des essais d’endurance et de conservation de données (pour les nombres de cycles, durées, températures et tailles d’échantillon) sont données dans le document JESD47 ou sont développées en utilisant des méthodes à base de connaissances, telles que celles données dans le document JESD94.