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IEC 62951-2:2019
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 2 : Méthode d’évaluation pour la mobilité des électrons, la pente en régime de sous-seuil et la tension de seuil des dispositifs souples
SKU: iec_031872_105916
Publié par IEC
Année de publication 2019
1.0 Edition
21 pages
détails du produit
L’IEC 62951-2:2019 spécifie les termes, définitions, symboles, configurations et méthodes d’évaluation pouvant être utilisés pour évaluer et déterminer les caractéristiques de performance des dispositifs à transistors en couche mince (TFT) souples. Le présent document spécifie les méthodes d’essai et les paramètres caractéristiques permettant d’évaluer précisément, dans le cadre d’une utilisation pratique, la performance et la fiabilité des dispositifs TFT souples soumis à une contrainte de courbure.