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IEC 60749-43:2017
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 43: Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des CI
SKU: iec_030723_102240
Publié par IEC
Année de publication 2017
1.0 Edition
74 pages
détails du produit
L’IEC 60749-43:2017 fournit des lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des produits de circuits intégrés (CI) à semiconducteurs. Le présent document n’est pas destiné aux applications militaires et spatiales.