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IEC 62951-6:2019
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 6: Méthode d’essai pour la résistance de couche des couches conductrices souples
SKU: iec_030289_105985
Publié par IEC
Année de publication 2019
1.0 Edition
50 pages
détails du produit
L’IEC 62951-6:2019 spécifie les termes, ainsi que la méthode et le rapport d’essai de la résistance de couche d’une couche conductrice souple soumise à des essais de courbure et de pliage. Les méthodes de mesurage comprennent la méthode de la sonde 2 points, la méthode de la sonde 4 points et la méthode de Montgomery, qui peuvent être appliquées à un mesurage sur site ou hors site et aux mesurages de résistance de couche anisotrope.