Codes et normes - Achat
IEC 62615:2010
Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques - Impulsion de ligne de transmission (TLP) - Niveau composant
SKU: iec_007263_044170
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
38 pages
détails du produit
La CEI 62615:2010 définit une méthode pour procéder aux essais d'impulsions pour évaluer la réponse tension-courant du composant en essai et pour considérer les paramètres de conception de protection pour le modèle du corps humain (HBM) des décharges électrostatiques (DES). Cette technique est connue sous le nom d'essai des impulsions de ligne de transmission (TLP). Le présent document établit une méthodologie à la fois pour effectuer les essais et rapporter les informations sur les essais des impulsions de ligne de transmission (TLP). Le domaine d'application et le centre d'intérêt de ce document portent sur les méthodes d'essai TLP des composants à semiconducteurs. Il convient que le présent document ne devienne pas une méthode alternative à une norme sur les essais HBM telle que la CEI 60749-26. Le but du document est d'établir des directives pour les méthodes TLP qui permettent l'extraction des paramètres du modèle HBM DES sur les dispositifs à semiconducteurs. Le présent document indique les mesures et procédures standards pour extraire correctement les paramètres du modèle HBM DES en utilisant les méthodes TLP.