Codes et normes - Achat
IEC 62418:2010
Dispositifs à semiconducteurs - Essai sur les cavités dues aux contraintes de la métallisation
SKU: iec_006993_043931
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
34 pages
détails du produit
La CEI 62418:2010 décrit une méthode d'essai sur les cavités dues aux contraintes générées par la métallisation et les critères associés. Elle s'applique à la métallisation à l'aluminium (Al) ou au cuivre (Cu).