Codes et normes - Achat
IEC 62415:2010
Dispositifs à semiconducteurs - Essai d'électromigration en courant constant
SKU: iec_006990_044034
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
22 pages
détails du produit
La CEI 62415:2010 décrit une méthode pour des essais conventionnels d'électromigration en courant constant de lignes métalliques, de chaînes de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.