Codes et normes - Achat
IEC 62374:2007
Dispositifs à semiconducteurs - Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille
SKU: iec_006940_037851
Publié par IEC
Année de publication 2007
1.0 Edition
43 pages
détails du produit
Cette norme décrit une méthode d essai de la rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille des dispositifs à semiconducteurs et une méthode d estimation de la durée de vie de produit en présence d unedéfaillance de type TDDB.