Codes et normes - Achat
IEC 62374-1:2010
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques
SKU: iec_006939_044535
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
32 pages
détails du produit
La CEI 62374-1:2010 décrit une méthode d'essai, une structure d'essai et une méthode d'estimation de la durée de vie d'un essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour des couches intermétalliques appliquées dans des dispositifs à semiconducteurs.