Codes et normes - Achat
IEC 62132-8:2012
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré
SKU: iec_006512_046618
Publié par IEC
Année de publication 2012
1.0 Edition
46 pages
détails du produit
La CEI 62132-8:2012 définit une méthode de mesure de l'immunité d'un circuit intégré (CI) aux perturbations électromagnétiques rayonnées aux fréquences radioélectriques sur la gamme de fréquences comprise entre 150 kHz et 3 GHz.
Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 62132-1:2006 .
Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 62132-1:2006 .