Codes et normes - Achat
IEC 62047-18:2013
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 18: Méthodes d'essai de flexion des matériaux en couche mince
SKU: iec_006360_048264
Publié par IEC
Année de publication 2013
1.0 Edition
26 pages
détails du produit
La CEI 62047-18:2013 spécifie la méthode d'essai de flexion des matériaux en couche mince de longueur et largeur inférieures à 1 mm et d'épaisseur comprise entre 0,1 micrometre et 10 micrometre. La présente Norme Internationale spécifie les essais de flexion et la forme des éprouvettes d'essai pour des éprouvettes d'essai de type en porte-à-faux lisses microminiaturisés, qui garantissent une précision correspondant aux caractéristiques spéciales.