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IEC 61788-15:2011
Supraconductivité - Partie 15: Mesures de caractéristiques électroniques - Impédance de surface intrinsèque de films supraconducteurs aux fréquences micro-ondes
SKU: iec_005915_045724
Publié par IEC
Année de publication 2011
1.0 Edition
96 pages
détails du produit
La CEI 61788-15:2011 décrit les mesures de l'impédance de surface intrinsèque (Zs) des films HTS aux fréquences micro-ondes par une méthode modifiée du résonateur diélectriques en mode deux résonances. L'objet de la mesure est d'obtenir la dépendance de l'impédance intrinsèque Zs vis-à-vis de la température à la fréquence de résonance f0.