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IEC 61191-6:2010
Ensembles de cartes imprimées - Partie 6: Critères d'évaluation des vides dans les joints brasés des boîtiers BGA et LGA et méthode de mesure
SKU: iec_004815_043692
Publié par IEC
Année de publication 2010
1 Edition
76 pages
détails du produit
La CEI 61191-6:2010 spécifie les critères d'évaluation pour les vides à l'échelle de la durée de vie du cycle thermique et la méthode de mesure des vides au moyen d'observations aux rayons X. La présente partie de la CEI 61191 s'applique aux vides générés dans les joints de brasure des boîtiers BGA et LGA brasés sur une carte. La présente partie de la CEI 61191 ne s'applique pas au boîtier BGA lui-même avant qu'il ne soit assemblé sur une carte. La présente norme s'applique également aux dispositifs dont les joints sont réalisés par fusion et resolidification, tels que les dispositifs à puce retournée (flip chip) et les modules multipuce, en plus des BGA et des LGA. La présente norme ne s'applique pas aux joints présentant un manque de métal entre un dispositif et une carte ni aux joints de brasure à l'intérieur d'un boîtier de dispositif. La présente norme s'applique aux macrovides de tailles compris entre 10 µm et plusieurs centaines de micromètres se produisant dans un joint brasé, mais elle ne s'applique pas aux vides plus petits (typiquement, microvides planaires) dont le diamètre est inférieur à 10 µm. La présente norme est destinée à l'évaluation et s'applique aux études de recherche, contrôle du processus de fabrication hors ligne et évaluation de la fiabilité de l'assemblage.
