Codes et normes - Achat
IEC 60749-36:2003
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 36: Accélération constante
SKU: iec_003383_029753
Publié par IEC
Année de publication 2003
1.0 Edition
7 pages
détails du produit
Décrit un essai utilisé pour déterminer les effets d'accélération constante sur les dispositifs à semiconducteurs de type à cavité. Il s'agit d'un essai accéléré destiné à indiquer les types de faiblesses structurelles et mécaniques non nécessairement détectées dans les essais de chocs et de vibrations.