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IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)
SKU: iec_003379_044671
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.1 Edition
9 pages
détails du produit
La CEI 60749-32:2002+A1:2010 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif.
Cette version consolidée comprend la première édition (2002) et
son amendement 1 (2010). Il n'est donc pas nécessaire de commander
l'amendement avec cette publication.