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IEC 60749-27:2006+AMD1:2012 CSV
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques etclimatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)
SKU: iec_003367_046952
Publié par IEC
Année de publication 2012
2.1 Edition
25 pages
détails du produit
La CEI 60749-27:2006+A1:2012 Etablit une procédure normalisée pour les essais et les classements des dispositifs à semiconducteurs en fonction de leur sensibilité aux dommages ou à la dégradation du fait de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle de machine (MM) défini. Elle peut être utilisée comme une méthode d'essai en variante à la méthode d'essai de DES sur le modèle du corps humain. L'objectif est de fournir des résultats d'essai de DES fiables et reproductibles de manière à ce que des classifications précises puissent être réalisées. Cette méthode d'essai est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs et elle est classée destructive.
Cette version consolidée comprend la deuxième édition (2006) et
son amendement 1 (2012). Il n'est donc pas nécessaire de commander
l'amendement avec cette publication.