Codes et normes - Achat
IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)
SKU: iec_003365_046944
Publié par IEC
Année de publication 2012
2.0 Edition
5 pages
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