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IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température
SKU: iec_003361_044974
Publié par IEC
Année de publication 2011
1.1 Edition
18 pages
détails du produit
La CEI 60749-23:2004+A1:2011 est utilisé pour déterminer les effets des conditions de polarisation et de température avec le temps sur des dispositifs à état solide. Il simule les conditions de fonctionnement des dispositifs d'une manière accélérée et il est essentiellement destiné à la qualification des dispositifs et au contrôle de fiabilité. Une forme de durée de vie utilisant une température élevée avec polarisation sur une courte durée, communément connue sous le nom de rodage, peut être utilisée pour dépister les défaillances liées à la mortalité infantile. Le détail de l'utilisation et de l'application du rodage ne font pas partie du domaine d'application de la présente norme.
Cette version consolidée comprend la première édition (2004) et
son amendement 1 (2011). Il n'est donc pas nécessaire de commander
l'amendement avec cette publication.