Codes et normes - Achat
IEC 60749-23:2004
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23 : Durée de vie en fonctionnement à haute température
SKU: iec_003360_031790
Publié par IEC
Année de publication 2004
1.0 Edition
17 pages
détails du produit
Cet essai est utilisé pour déterminer les effets des conditions de polarisation et de température avec le temps sur des dispositifs à semiconducteurs. Il simule les conditions de fonctionnement des dispositifs d'une manière accélérée et il est essentiellement destiné à la qualification des dispositifs et au contrôle de fiabilité.