Codes et normes - Achat
IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 23: Durée de vie en fonctionnement à haute température
SKU: iec_003359_044767
Publié par IEC
Année de publication 2011
1.0 Edition
5 pages
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