Codes et normes - Achat
IEC 60749-22:2002
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 22: Robustesse des contacts soudés
SKU: iec_003357_029168
Publié par IEC
Année de publication 2002
1.0 Edition
41 pages
détails du produit
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai permet de mesurer la robustesse d'un contact soudé ou de déterminer sa conformité à des exigences de robustesse spécifiées.
Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.