Codes et normes - Achat
IEC 60748-20-1:1994
Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 20: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches - Section 1: Exigences pour l'examen visuel interne
SKU: iec_003311_017193
Publié par IEC
Année de publication 1994
1.0 Edition
55 pages
détails du produit
Le but de ces examens est de vérifier les matériaux internes, la construction et la qualité d'exécution des circuits intégrés à couches et hybrides à couches (C et CIHC). Ces examens seront normalement effectués préalablement à la fermeture du boîtier ou à l'encapsulation afin de détecter et d'éliminer les C et CIHC dont les défauts internes pourraient mener à un échec du dispositif dans son fonctionnement normal. D'autres critères d'acceptation peuvent être négociés respectivement avec l'acheteur ou le fournisseur.