Codes et normes - Achat
IEC 60747-14-4:2011
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 14-4: Accéléromètres à semiconducteurs
SKU: iec_003253_044771
Publié par IEC
Année de publication 2011
1.0 Edition
197 pages
détails du produit
La CEI 60747-14-4:2011 s'applique aux accéléromètres à semiconducteurs pour tous les types de produits. La présente norme s'applique non seulement aux accéléromètres à semiconducteurs types à circuits électriques intégrés, mais aussi aux accéléromètres à semiconducteurs qui possèdent des circuits externes. La présente norme ne viole pas (ou ne devrait pas entraver) (ou n'entre pas en contradiction avec) l'accord entre client et fournisseur pour un nouveau modèle ou de nouveaux paramètres commerciaux.
NOTE 1: Bien qu'elle concerne les accéléromètres à semiconducteurs, la présente norme peut être appliquée complètement ou partiellement à tout type d'accéléromètre produit en masse.
NOTE 2: L'objet de la présente norme est de permettre une description systématique, qui couvre les sujets initiés par l'apparition des accéléromètres à semiconducteurs. Les tâches imposées sur les accéléromètres à semiconducteurs non seulement sont communes à tous les accéléromètres mais aussi leur sont inhérentes et ne sont pas encore complètement résolues. Les descriptions sont fondées sur les résultats de recherche les plus récents. Un exemple type est celui de l'accéléromètre à axes multiples. La présente norme énonce la méthode de mesure de l'accélération comme une grandeur vectorielle utilisant des accéléromètres à axes multiples.
NOTE 3: La présente norme n'est pas du tout en contradiction avec les parties existantes de l'ISO 16063 ou de l'ISO 5347. La présente norme est destinée à fournir des concepts et des procédures d'étalonnage des accéléromètres à semiconducteurs à axes multiples qui sont utilisés non seulement pour la mesure de l'accélération mais aussi pour le contrôle du mouvement dans les fréquences larges depuis les valeurs en courant continu.
Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.
NOTE 1: Bien qu'elle concerne les accéléromètres à semiconducteurs, la présente norme peut être appliquée complètement ou partiellement à tout type d'accéléromètre produit en masse.
NOTE 2: L'objet de la présente norme est de permettre une description systématique, qui couvre les sujets initiés par l'apparition des accéléromètres à semiconducteurs. Les tâches imposées sur les accéléromètres à semiconducteurs non seulement sont communes à tous les accéléromètres mais aussi leur sont inhérentes et ne sont pas encore complètement résolues. Les descriptions sont fondées sur les résultats de recherche les plus récents. Un exemple type est celui de l'accéléromètre à axes multiples. La présente norme énonce la méthode de mesure de l'accélération comme une grandeur vectorielle utilisant des accéléromètres à axes multiples.
NOTE 3: La présente norme n'est pas du tout en contradiction avec les parties existantes de l'ISO 16063 ou de l'ISO 5347. La présente norme est destinée à fournir des concepts et des procédures d'étalonnage des accéléromètres à semiconducteurs à axes multiples qui sont utilisés non seulement pour la mesure de l'accélération mais aussi pour le contrôle du mouvement dans les fréquences larges depuis les valeurs en courant continu.
Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.