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IEC 60747-1:2006
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 1: Généralités
SKU: iec_003242_043564
Publié par IEC
Année de publication 2006
2.0 Edition
89 pages
détails du produit
La CEI 60747-1:2006 spécifie les exigences générales applicables aux dispositifs discrets à semiconducteurs et aux circuits intégrés couverts par les autres parties de la CEI 60747 et de la CEI 60748 (voir Annexe A). Cette deuxième édition de la CEI 60747-1 annule et remplace la première édition (1983) et ses amendements 1 (1991), 2 (1993) et 3 (1996). Les principaux changements par rapport à l'édition précédente sont énumérés ci-dessous:
a) La terminologie figurant actuellement dans le VEI (ou qui était en contradiction avec le VEI) a été omise.
b) Les lignes directrices relatives aux valeurs limites et caractéristiques essentielles ont fait l'objet d'une révision générale.
c) La distinction entre méthodes de mesure générales et de référence a été supprimée.
d) Un article relatif à l'annonce de suppression d'un produit a été ajouté.
a) La terminologie figurant actuellement dans le VEI (ou qui était en contradiction avec le VEI) a été omise.
b) Les lignes directrices relatives aux valeurs limites et caractéristiques essentielles ont fait l'objet d'une révision générale.
c) La distinction entre méthodes de mesure générales et de référence a été supprimée.
d) Un article relatif à l'annonce de suppression d'un produit a été ajouté.