Codes et normes - Achat
IEC 60191-6-21:2010
Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducters - Partie 6-21: Règles générales pour la préparation des dessins d'encombrement des boîtiers pour dispositifs à semiconducteurs pour montage en surface - Méthodes de mesure pour les dimensions des boîtiers de faible encombrement (SOP)
SKU: iec_001005_044496
Publié par IEC
Année de publication 2010
1.0 Edition
28 pages
détails du produit
La CEI 60191-6-21:2010 spécifie les méthodes destinées à mesurer les dimensions des boîtiers de faible encombrement SOP, l'encombrement des boîtiers de forme E conformément à la CEI 60191-4.