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Normes et codes

CSA ISO 11737-1:F19

Stérilisation des produits de santé — Méthodes microbiologiques — Partie 1 : Détermination d'une population de microorganismes sur des produits (norme ISO 11737-1:2018 adoptée, troisième édition, 2018-01)
  • Anglais, Français
  • Publié en: 2019
  • Publié par CSA Group
  • Abonnement disponible
Normes et codes

CSA ISO 11737-2:F21

Stérilisation des produits de santé — Méthodes microbiologiques — Partie 2 : Contrôles de stérilité pratiqués au moment de la définition, de la validation et de la maintenance d'un procédé de stérilisation (norme ISO 11737-2:2019 adoptée, troisième édition, 2019-12)
  • Anglais, Français
  • Publié en: 2021
  • Publié par CSA Group
  • Abonnement disponible
Normes et codes

CSA R103:F23

Protocoles de partage des données et des métadonnées des stations de surveillance hydrométéorologique automatisées
  • Anglais, Français
  • Publié en: 2023
  • Publié par CSA Group
  • Abonnement disponible
Normes et codes

CSA Z12885:20

Nanotechnologies - Exposure control program for engineered nanomaterials in occupational settings

  • Anglais
  • Publié en: 2020
  • Publié par CSA Group
  • Abonnement disponible
Normes et codes

CSA Z5300:F19

Filaments de cellulose (FC) — Préparation de formettes pour essais physiques
  • Anglais, Français
  • Publié en: 2019
  • Publié par CSA Group
  • Abonnement disponible
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IEC 60050-102:2007

Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 102: Mathématiques - Concepts généraux et algèbre linéaire
  • Bilingue
  • Publié en: 2007
  • Publié par IEC
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IEC 60050-102:2007/AMD1:2017

Amendement 1 - Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 102: Mathématiques - Concepts généraux et algèbre linéaire
  • Bilingue
  • Publié en: 2017
  • Publié par IEC
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IEC 60050-102:2007/AMD2:2020

Amendement 2 - Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 102: Mathématiques - Concepts généraux et algèbre linéaire
  • Bilingue
  • Publié en: 2020
  • Publié par IEC
Codes et normes - Achat

IEC 60050-103:2009

Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 103: Mathématiques - Fonctions
  • Bilingue
  • Publié en: 2009
  • Publié par IEC
Codes et normes - Achat

IEC 60050-103:2009/AMD1:2017

Amendement 1 - Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 103: Mathématiques - Fonctions
  • Bilingue
  • Publié en: 2017
  • Publié par IEC
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IEC 60050-103:2009/AMD2:2019

Amendement 2 - Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 103: Mathématiques - Fonctions
  • Bilingue
  • Publié en: 2019
  • Publié par IEC
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IEC 60050-103:2009/AMD3:2020

Amendement 3 - Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 103: Mathématiques - Fonctions
  • Bilingue
  • Publié en: 2020
  • Publié par IEC
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IEC 60050-103:2009/AMD4:2021

Amendement 4 - Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 103: Mathématiques - Fonctions
  • Bilingue
  • Publié en: 2021
  • Publié par IEC
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IEC 60050-511:2018

Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 511: Produits et systèmes électrotechniques nanotechnologiques
  • Bilingue
  • Publié en: 2018
  • Publié par IEC
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IEC 62607-3-1:2014

Nanofabrication - Caractéristiques de contrôle clé - Partie 3-1: Nanomatériaux luminescents - Rendement quantique
  • Bilingue
  • Publié en: 2014
  • Publié par IEC
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IEC 62624:2009

Test methods for measurement of electrical properties of carbon nanotubes
  • Anglais
  • Publié en: 2009
  • Publié par IEC
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IEC 62860-1:2013

Test methods for the characterization of organic transistor-based ring oscillators
  • Anglais
  • Publié en: 2013
  • Publié par IEC
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IEC 62860:2013

Test methods for the characterization of organic transistors and materials
  • Anglais
  • Publié en: 2013
  • Publié par IEC
Codes et normes - Achat

IEC PAS 62565-2-1:2011

Nanomanufacturing - Material specifications - Part 2-1: Single-wall carbon nanotubes - Blank detail specification
  • Anglais
  • Publié en: 2011
  • Publié par IEC
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IEC TR 62632:2013

Nanoscale electrical contacts and interconnects
  • Anglais
  • Publié en: 2013
  • Publié par IEC